电磁兼容预测试系统

在电磁兼容测试标准中对测试手段、设备和环境都有着严格的规范,电磁兼容的测试主要分为以下两个方面的内容即Emissions 测试(衡量电子产品是否会严重影响和干扰其它产品或者环境)和Immunity 测试(衡量电子产品是否对来自外界的干扰有足够的抗干扰能力)。在标准测试中大多采用暗室(Anechoic Chambers),其优点是适用于标准测试,无背景干扰,无反射干扰,缺点是造价昂贵。因此寻找一种既经济又有效的手段进行电磁兼容测试是非常必要的。

来自英国Laplace公司的电磁兼容预测试系统涵盖三大领域,即发射辐射测试(Radiated Emissions),传导辐射测试(Conducted  Emissions),以及敏感度测试(RFI Susceptability),该套系统可以用于新产品的研发,产品的标准测试,及产品的电磁兼容预测和产品的自检测和计量校正等。使用简单而且灵活,可以在包括实验室,非标场地,生产线甚至是在办公室中进行精确的电磁兼容测量,及时修正产品的质量指标,轻松满足行业标准的要求。

设备组成   :

电磁兼容预测试系统由以下设备组成:

1.LAPLACE测试小室---LC600/LC300
2.辐射分析仪SA1000(10KHz-1.1GHz)
3.前置放大器SA1020
4.信号源----RF2000(30MHz-2.4GHz)
5.功放RF1100(30MHz-1GHz,10W)
6.功放RF1200(1GHz-2GHz,10W)
7.预选器RF910

 

 

用途,配置及使用进行说明

   LAPLACE的电磁兼容预测试系统主要由以下设备组成:LAPLACE测试小室(LC600),信号源RF200030MHz-2.4GHz),功放RF110030MHz-1GHz10W),功放RF12001GHz-2GHz10W),辐射分析仪SA100010KHz-1.1GHz),前置放大器SA1020等,该套设备主要用于产品的电磁兼容分析和预测试,LAPLACE的测试小室是该测试系统中的一个组件,其特点是高效,准确,结构简单,集成度高,使用灵活,适合于研发过程中进行电磁兼容中辐射发射测试和敏感度测试,可以在设计过程中随时进行测试以发现问题并进行改进,这个特点是非常必要而有效的,它采用新颖的内部双锥形独有结构,并安装有场强传感器,在出厂之前每个CELL的内部场强与传感器的输出和辐射灵敏度都经过了逐一标定,因此可以保证实际测试时的准确性。其内部有一个不锈钢材料的无缝焊接的屏蔽体,屏蔽效果良好,无须日常维护并不会随时间改变,被测物体安放在测试小室内部,小室的门上有透明玻璃视窗,其四周是高档不锈钢材料制作的防电磁泄漏网,门框的外围四边装备了EMC垫圈,以保证设备测试时测试环境的完整性,如果门没有完全关好,安装在门框上的微型开关将起作用。内部有一体化设计的内部传感器用于监视场强,设备的前端有连接头用于射频信号的输入输出以及内部传感器信号的输出,小室背面有多路预留的专用和通用输入与输出连接端子。LAPLACE测试小室可用于强磁场抗干扰测试,上限100V/m,但需要和大功率射频放大器来配合使用,进行抗干扰测量时,被测空间内的各个点的场强差值在6dB以内,并在出厂时经过标定,利用LAPLACE小室也可用于发射辐射测试,通过出厂时自带的天线系数校准图,可以将在测试室中得到的结果转换成通常在3开阔场中获得的测试结果。LAPLACE测试小室与SA1000(辐射分析仪)或其他公司的分析仪或接收机连用就可以轻松地完成发射辐射测试,同时避免了背景噪声辐射,测试场地失真,需要地平面和必须进行高度扫描等诸多问题。而与LAPLACE公司的RF1000(信号源)RF1100(功率放大器)连用,可以完全满足GB17626.3(EN61000-4-3)中所规定的射频电磁场辐射抗扰度测试条件,其内部场强可以很轻松的达到10V/m

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